431-TT
Discrete Device Test System
The Model 431-TT is Tesec’s newest DC Parametric Test System which employs a new Architecture with V/I Source Measurement Modules.
The 431-TT is designed for Power Device testing and features high-speed test measurement and data capture, parallel device testing, auto-calibration, and an on-screen Waveform Monitor.
FEATURES |
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♦VI Source Measure Modules Structure |
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♦1.2KV、65A (C-E 130A, 200A option) |
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Capability in Main Frame |
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♦High Speed Measurement |
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♦Multi devices Measurement |
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♦Wafer Parallel Measurement |
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♦Auto Calibration Function |
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♦On Screen Waveform Monitor |
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♦High Current Unit, High Voltage Unit as option |
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