Dynamic Test System
3430-SW
The Dynamic Test System 3430-SW measures dynamic characteristics of IGBT/MOSFET devices at high speed. Maximum of 4 parallel measurement is available by connecting the 3430-SW mainframe test stations for each test items (normal 2stations). One PC controls the whole system.
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Features |
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♦Low inductance structure reproduces an |
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ideal waveforms. |
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♦Test time is reduced drastically by high |
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speed waveform analysis. |
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